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EMIC/愛美克 殘磁測量高斯計 該表面磁場測量儀是用于“JIS Z 2320 磁粉探傷”的高斯計。 由于一次測量即可測量測試目標的表面磁通密度（目標表面磁場估計）， 這有助于縮短測試時間并提高準確性。

EMIC/愛美克 磁粉探傷儀 磁粉濃度儀 簡化的磁粉濃度儀 熒光應用于磁粉探傷設備 這是一種測量磁粉液體濃度的裝置。

EMIC/愛美克 磁粉探傷儀用紫外線強度計 用于控制紫外線強度。 它用于控制黑光的紫外線強度。 波長范圍為 355 至 375 納米 （nm） 具有峰值保持功能。 數(shù)字顯示屏使數(shù)字易于讀取。

EMIC/愛美克 表面磁場測量用高斯計 該表面磁場測量儀是用于“JIS Z 2320 磁粉探傷”的高斯計。 由于一次測量即可測量測試目標的表面磁通密度（目標表面磁場估計）， 這有助于縮短測試時間并提高準確性。

EMIC/愛美克 手持式磁粉探傷儀 Handy Magna Black Light系列歷史悠久，成就斐然。 型號： UM

日本ADEX ALIE 數(shù)字電阻測試儀 ●最小分辨率:10μΩ ●最大測定范圍:199.9Ω ●測定信號:1kHz ●四端點測定方式 ●搭載接觸檢知(CONTACT CHECK) ●可選配GP-IB或RS-232C功能(OPTION)

日本ADEX ALIE LCR檢測儀 低成本?高精確度　數(shù)字電阻檢測計 搭載接觸檢知(CONTACT CHECK)?熱電動勢除去回路?并以百分比測定

日本ADEX ALIE 超低電阻數(shù)位電阻測試儀 適合用于低電阻器之自動測定 ●適用于分流電阻器等超低電阻測定 ●測定時除去熱電動勢影 ●施加脈沖電流以減少測定端點磨耗 ●與已設定基準值之間已百分比表示測定值 0.5mΩ～1kΩ/±50.00%[最小分辨率：50nΩ] ●GP-IB/RS-232C/Centronics輸出（OPTION） ●比較器結(jié)